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研究成果
(1) Stress reduction and structural quality improvement due to In doping in "GaAs"/Si S. Saravanan, M. Adachi, N. Satoh, T. Soga, T. Jimbo and M. Umeno Mat. Sci. Eng. B Vol.68 (2000) 166-170
(2) Impurity reduction and crystalline quality improvement due to isovalent doping(In) in GaAs epilayers on Si substrate by Chemical Beam Epitaxy S. Saravanan, M. Adachi, N. Satoh, T. Soga, T. Jimbo and M. Umeno J. Crys. Growth Vol.209 (2000) 621-624
(3) Dynamic-mode AFM using the piezoelectric cantilever: Investigations of local optical and electrical properties N. Satoh, K. Kobayashi, H. Yamada, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, K. Matsushige Appl. Surf. Sci. Vol.188 (2002) 425-429.
(4) Investigations of local surface properties by SNOM combined with KFM using a PZT cantilever N. Satoh, Watanabe, T. Fujii, K. Kobayashi, H. Yamada, K. Matsushige Inst. Elec., Inf. Comm. Eng. Vol.E85-C (2002) 2071-2076.
(1) Nanoscale Investigations of Optical and Electrical Properties by Dynamicmode AFM Using a Piezoelectric cantilever N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, H. Yamada, K. Matsushige Jpn. J. Appl. Phys. Vol.42 (2003) 4878-4881
(2) Investigations of Nanoparticles by Scanning Near-Field Optical Microscopy Combined with Kelvin Probe Force Microscopy Using a Piezoelectric Cantilever N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada, K. Matsushige Jpn. J. Appl. Phys. Vol.43 (2004) 4651-4654
(3) Multi-probe atomic force microscopy using piezoelectric cantilevers N. Satoh, E. Tsunemi, Y. Miyato, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada Jpn. J. Appl. Phys. Vol.46 (2007) 5543-5547
(4) Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method E. Tsunemi, N. Satoh, Y. Miyato, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 46 (2007) 5636-5638
(1) SEM／EDSによる竹炭のケイ素の分布について 持丸慎介, 大谷貴美子, 冨田圭子, 南出隆久, 佐藤宣夫, 小林圭 Bamboo Journal No.22 (2005)
(1) 特願2004-253156 「積層型有機・無機複合高効率太陽電池」 佐藤宣夫, 香取重尊, 藤田静雄, 松重和美
(2) 特願2004-331103 「表面状態計測方法、表面状態計測装置、顕微鏡、情報処理装置」 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 松重和美
(3) 特願2006-141840 「顎関節振動による全く新しいバイオメトリックス認証」 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 松重和美
(4) 特願2007-91856 「３次元場取得装置、方法およびプログラム、磁気力顕微鏡、情報読み取り装置、電流分布測定装置、生体磁場測定装置、非破壊検査装置」 木村建次郎, 小林圭, 山田啓文, 堀内喬, 佐藤宣夫, 松重和美,
(1) Growth of GaInP on Si Substrate by Chemical Beam Epitaxy M. Adachi, N. Kishi, N. Satoh, T. Soga, T. Jimbo and M. Umeno 7th International Conference on Chemical Beam Epitaxy and Rerated Growth Techniques (1999年7月)
(2) Growth of GaInP with an intermediate GaP layer on Si Substrate by Chemical Beam Epitaxy N .Satoh, M. Adachi, T. Soga, T. Jimbo and M. Umeno 11th International Photovoltaic Science and Engineering Conference(1999年9月)
(3) Dynamic-mode AFM using the piezoelectric cantilever: Investigation of local optical and electrical properties N. Satoh, K. Kobayashi, H. Yamada, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, K. Matsushige 4th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (2001年9月)
(4) Nanoscale Investigations of Optical and Electrical Properties by Dynamic-mode AFM Using a Conductive PZT Cantilever N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, H. Yamada, K. Matsushige The 10th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2002年10月)
(5) Nanoscale Investigations of Optical and Electrical Properties of Organic Ultrathin Films by Dynamic-Mode AFM Using a Piezoelectric Cantilever N. Satoh, M. Nakahara, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, T. Horiuchi, S. Hotta, H. Yamada and K. Matsushige 2nd International Conference on Molecular Electronics and Bioelectronics (2003年3月)
(6) Investigation of nanoparticles by dynamic-mode AFM using a PZT cantilever N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada and K. Matsushige 7th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces, and Nanostructures (2003年11月)
(7) Investigations of Nanoparticles by SNOM Combined with KFM Using a PZT Microfabricated Cantilever N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada, K. Matsushige The 11th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2003年12月)
(8) Observation of surface potential by Kelvin probe force microscopy for fabrication of electrode / organic thin film S. Katori, N. Satoh, M. Yahiro, S. Fujita and K. Matsushige Korea Japan Joint Forum 2004 "Organic Materials for Electronics and Photonics (2004年11月)
(9) Near-Field Light Detection by Dissipative Force Modulation Using a PZT Cantilever DFM/SNOM N. Satoh, T. Fukuma , K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada, K. Matsushige The 12th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2004年12月)
(10) Surface Potential Measurement of Organic thin Films by Kelvin Probe Force Microscopy using a PZT Cantilever N. Satoh, S. Katori , M. Yahiro, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, H. Yamada, K. Matsushige Third International Conference on Molecular Electronics and Bioelectronics (2005年3月)
(11) Study of Organic and Inorganic Accumulating Type of Flexible Solar Cell S. Katori, N. Satoh, S. Fujita, K. Matsushige International Conference on Organic Materials Technology (2005年7月)
(12) Dynamic Force Microscopy by Dissipative Force Modulation using a Piezoelectric Cantilever for Near-field Light Detection N. Satoh, T. Fukuma, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige, H. Yamada 13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques (2005年7月)
(13) Surface Potential Measurement of Organic thin Film by Kelvin Probe Force Microscopy Using a PZT Cantilever N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada International Symposium on Surface Science and Nanotechnology (2005年11月)
(14) Near-field Light Detection by Dissipative Force Modulation Method in FM-DFM using a PZT Cantilever N. Satoh, T. Fukuma, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada Materials Research Society Fall Meeting (2005年12月)
(15) Dynamic Force Mircoscopy using Dissipative Force Modulation for Near-field Light Detection N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada 9th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy (2006年7月)
(16) Development of a multi-probe AFM system with self-sensing cantilevers E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada 9th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy (2006年7月)
(17) Development of Multi-probe Atomic Force Microscope System with Self-sensing Cantilevers E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada The 16th International Microscopy Congress (2006年9月)
(18) Surface potential measurement of a-sexithiophene by Kelvin probe force microscopy utilizing frequency modulation detection method N. Satoh, K. Kaisei, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada 14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2006年12月)
(19) Multi-probe atomic force microscopy using piezoelectric cantilevers N. Satoh, E. Tsunemi, K. Kobayashi, S. Watanabe, T. Fujii, K. Matsushige and H. Yamada 14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2006年12月)
(20) Local polarized domains of ferroelectric materials investigated by Kelvin probe force microscopy A. Nakai, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada 14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2006年12月)
(21) Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada 14th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2006年12月)
(22) Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada 10th International NC-AFM Conference (2007年9月)
(23)Local surface potential measurements of oligothiophene molecular films connected to nano-gap metallic electrodes by Kelvin probe force microscopy N. Satoh, Y. Onoyama, K. Kaisei, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada CREST Workshop on Molecular Nano-Electronic Devices (2007年11月)
(24)Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method E. Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada CREST Workshop on Molecular Nano-Electronic Devices (2007年11月)
(25) Development of Multi-Probe AFM with Optical Beam Deflection Method E.Tsunemi, N. Satoh, K. Kobayashi, K. Matsushige, H. Yamada Materials Research Society Fall Meeting (2007年11月)
(26)Local Surface Potential Measurements on Oligothiophene Molecular Films between Metallic Electrodes by Kelvin Probe Force Microscopy Y. Onoyama, K. Kobayashi, N. Satoh, K. Matsushige and H. Yamada 15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2007年12月)
(27)Surface potentials of PCBM molecular films under light irradiation investigated by FM-DFM/KFM M. Yamaki, N. Satoh, S. Katori, K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada 15th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (2007年12月)
(1) CBE法により成長したInGaP/GaAsの断面EBIC観察 佐藤宣夫, 島崎晃治, 安達充浩, 江川孝志, 神保孝志, 梅野正義 第45回応用物理学関係連合講演会 (1998年3月)
(2) CBE成長GaAs/SiにおけるInの添加効果 S. Saravanan, 安達充浩, 佐藤宣夫, 曽我哲夫, 神保孝志, 梅野正義 第47回応用物理学関係連合講演会 (2000年3月)
(3) 圧電薄膜カンチレバーを用いた強誘電体薄膜の微小分極領域の評価 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 堀内俊寿, 渡辺俊二, 松重和美 第61回応用物理学学術講演会 (2000年9月)
(4) 圧電性薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードAFM : 光学的特性及び電気的特性評価への応用 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 渡辺俊二, 堀内俊寿, 松重和美 第48回応用物理学関係連合講演会 (2001年3月)
(5) 導電性PZT カンチレバーを用いたダイナミックモードAFM : 光学的及び電気的特性評価への応用 佐藤宣夫, 小林圭, 青木裕之, 山田啓文, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 松重和美 第62回応用物理学学術講演会 (2001年9月)
(6) 圧電薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードAFM : 光学的及び電気的特性評価への応用 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美 第49回応用物理学関係連合講演会 (2002年3月)
(7) 導電性PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードSNOM 佐藤宣夫, 渡辺俊二, 藤井透, 小林圭, 山田啓文, 松重和美 近接場光学研究グループ第11回研究討論会 (2002年6月)
(8) 圧電薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードAFM −ナノスケール光学・電気物性評価− 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美 第63回応用物理学会学術講演会 (2002年9月)
(9) PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードAFM: 光学的および電気特性評価への応用 佐藤宣夫, 中原雅之, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美 大阪大学VBL 若手研究発表会 (2002年12月)
(10) PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードAFM −ナノスケール光学・電気物性評価− 佐藤宣夫, 中原雅之, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 堀田収, 山田啓文, 松重和美 第50回応用物理学関係連合講演会 (2003年3月)
(11) PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードSNOM −ナノスケール光学・電気物性評価− 佐藤宣夫, 中原雅之, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美 第50回応用物理学関係連合講演会 (2003年3月)
(12) PZTカンチレバーを用いたダイナミックモードSNOMによるナノ粒子識別 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美 近接場光学研究グループ第12回研究討論会 (2003年6月)
(13) 圧電薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードAFMによるナノ粒子識別 佐藤宣夫, 中原雅之, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美 第64回応用物理学会学術講演会 (2003年8月)
(14) ＰＺＴ薄膜カンチレバーを用いたダイナミックモードＡＦＭによるナノ粒子の観察 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美 第51回応用物理学関係連合学術講演会 (2004年3月)
(15) ＰＺＴ薄膜カンチレバーを用いたＦＭ検出方式ダイナミックモードＳＮＯＭ−散逸力変調による光検出の試み− 佐藤宣夫, 福間剛士, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美 第65回応用物理学会学術講演会 (2004年9月)
(16) 真空蒸着法により作製された金属/有機薄膜のKFMを用いた表面電位観察 香取重尊, 佐藤宣夫, 藤田静雄, 松重和美 第65回応用物理学会学術講演会 (2004年9月)
(17) PZT薄膜カンチレバーを用いたFM検出方式ダイナミックモードSNOM(2)−散逸力変調による光検出− 佐藤宣夫, 福間剛士, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美 第52回応用物理学関係連合講演会 (2005年3月)
(18) 有機積層薄膜のKFMを用いた表面電位観察 香取重尊, 佐藤宣夫, 八尋正幸, 小林圭, 藤田静雄, 松重和美 第52回応用物理学関係連合講演会 (2005年3月)
(19) 圧電薄膜カンチレバーを用いた多機能走査プローブ顕微鏡の開発 佐藤宣夫 日本真空協会関西支部平成17年度第2回講演会 (2005年5月)
(20) PZTカンチレバーを用いたFM-DFMの散逸力変調法による近接場光検出 佐藤宣夫, 福間剛士, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透 , 松重和美, 山田啓文 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)
(21) ケルビンプローブ原子間力顕微鏡による有機半導体分子薄膜／金属界面の電位分布観察 改正清広, 佐藤宣夫, 小林圭, 石田謙司, 松重和美, 山田啓文 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)
(22) 微小開口をもつAFM探針からの溶液ナノディスペンシング 改正清広, 佐藤宣夫, 小林圭, 松重和美, 山田啓文 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)
(23) マスク蒸着法による有機積層薄膜のAFM/KFMを用いた表面電位観察 香取重尊, 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 藤田静雄, 松重和美 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)
(24) 金属電極上に堆積したAlq3薄膜のKFMによる表面電位観察 香取重尊, 佐藤宣夫, 小林圭, 山田啓文, 藤田静雄, 松重和美 第66回応用物理学会学術講演会 (2005年9月)
(25) マスク蒸着法により作製した積層有機薄膜の暗室下でのKFM表面電位マッピング 佐藤宣夫, 香取重尊, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 藤田静雄, 松重和美, 山田啓文 第53回応用物理学関係連合講演会 (2006年3月)
(26) 自己検出カンチレバーを用いたマルチプローブＡＦＭの開発とその基本性能 常見英加, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 松重和美, 山田啓文 第53回応用物理学関係連合講演会 (2006年3月)
(27) 微小開口をもつAFM探針からの溶液ナノディスペンシング(2) 改正清広, 佐藤宣夫, 小林圭, 松重和美, 山田啓文 第53回応用物理学関係連合講演会 (2006年3月)
(28) 誘電泳動法によるナノギャップ電極への分子配向とその電子物性評価 鈴木一博, 改正清広, 佐藤宣夫, 宮戸祐治, 大村英治, 小林圭, 松重和美, 山田啓文 第53回応用物理学関係連合講演会 (2006年3月)
(29) 圧電薄膜カンチレバーを用いたマルチプローブSPMの開発 佐藤宣夫, 常見英加, 小林圭, 山田啓文, 松重和美 ナノ学会第4回大会 (2006年5月)
(30) 微小開口をもつAFM探針からの溶液ナノディスペンシング 改正清広, 佐藤宣夫, 小林圭, 松重和美, 山田啓文 ナノ学会第4回大会 (2006年5月)
(31) 周波数変調方式のKFMによる有機分子薄膜材料の表面電位計測 佐藤宣夫, 香取重尊, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 藤田静雄, 山田啓文, 松重和美 第67回応用物理学会学術講演会 (2006年8月)
(32) FM検出方式ダイナミックモードAFMによる光誘起力検出 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 山田啓文, 松重和美 第67回応用物理学会学術講演会 (2006年8月)
(33) KFMによる強誘電体表面における表面電荷の分極挙動の評価 中井章文, 佐藤宣夫, 小林圭, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美 第67回応用物理学会学術講演会 (2006年8月)
(34) マルチプローブAFMの開発およびプローブ間相互作用の検出 常見英加, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 松重和美, 山田啓文 第67回応用物理学会学術講演会 (2006年8月)
(35) FM検出方式ダイナミックモードAFMによる光誘起力検出 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 松重和美, 山田啓文 第44回茅コンファレンス (2006年9月)
(36) マルチプローブAFMの開発およびプローブ間相互作用の検出 常見英加, 佐藤宣夫, 小林圭, 渡辺俊二, 藤井透, 松重和美, 山田啓文 第44回茅コンファレンス (2006年9月)
(37) KFMによる強誘電体表面における表面電荷の分極挙動の評価 中井章文, 佐藤宣夫, 小林圭, 堀内俊寿, 山田啓文, 松重和美 第44回茅コンファレンス (2006年9月)
(38)光てこ法を用いたマルチプローブAFMの開発 常見英加，佐藤宣夫，小林 圭，松重和美，山田啓文 第54回応用物理学関係連合講演会 (2007年3月)
(39)光照射下におけるオリゴチオフェン分子薄膜のFM-KFM表面電位計測 佐藤宣夫，石塚 彰，小野山有亮，改正清広，小林 圭，松重和美，山田啓文 第54回応用物理学関係連合講演会 (2007年3月)
(40)ケルビンプローブ原子間力顕微鏡によるオリゴチオフェン結晶性薄膜の表面電位測定 小野山有亮，小林 圭，佐藤宣夫，改正清広，松重和美，山田啓文 第54回応用物理学関係連合講演会 (2007年3月)
(41)マルチプローブ原子間力顕微鏡の探針間距離制御 佐藤宣夫，常見英加，小林 圭，渡辺俊二，藤井 透，松重和美，山田啓文 第68回応用物理学会学術講演会 (2007年9月)
(42)光てこ法を用いたマルチプローブAFMの開発（2） 常見英加，佐藤宣夫，小林 圭，松重和美，山田啓文 第68回応用物理学会学術講演会 (2007年9月)
(43)ナノギャップ電極に架橋したオリゴチオフェン分子薄膜のFM-KFM表面電位測定 小野山有亮，小林 圭，佐藤宣夫，改正清広，松重和美，山田啓文 第68回応用物理学会学術講演会 (2007年9月)
(44)可視光入射によるFM-DFM/KFMを用いた有機分子薄膜の表面電位計測 佐藤宣夫，山木理生，香取重尊，小林 圭，藤田静雄，松重和美，山田啓文 第68回応用物理学会学術講演会 (2007年9月)
